离线分析优化制造质量
TasWavEditor分析软件，帮助发现并且预防被测对象的制造错误，从而提高制造质量。 我们将生产统计的限值与特殊故障数据的离线分析想结合，构成生产质量的闭环监控。
办公室内的离线分析
Discom传感器的原始测量数据记录在wav数据文件中。Discom TasWavEditor软件对这些文件数据，进行离线式的深入分析。 测试台架传感器信号的后处理和分析，可以在办公室里离线完成。
提升制造质量
TasWavEditor得出的结论，有助于发现并预防被测工件中的制造错误，从而提高了制造质量。
离线分析的目标包括：
- 详细检查不合格件
- 再次聆听被测工件并确定故障
- 调整参数
- 虚拟重复测量并验证新参数，无需中断生产
- 优化测试工艺
- 通道校准检查和范围控制
离线分析 – 优化分析
用户可以在个人电脑进行离线分析，而不会影响生产。 下线台架上的测量数据在不断生成和刷新，但是细致的数据分析需要额外的时间。 可以在没有时间压力的情况下进行离线数据分析和故障判断。 可以进行必要的设置优化和系统测试。
灵活的工具箱
如果基本的软件模块无法找出故障根源怎么办？ 没问题，系统还可以添加扩展模块。 扩展模块功能可以首先在离线分析环境下进行验证。
预防质量投诉
离线分析还可以针对用户特定问题反馈，进行测试参数的优化和调整，以避免后续投诉。 您需要帮助分析质量因素吗？
Beratung, Training und Schulungen gehören natürlich auch zu unserem Portfolio.
您的获益
提升离线分析能力
- 台架传感器信号的详细检查
- 基于原始波形文件的虚拟重复测试
- 基于早期离线分析和参数化的故障预判和避免
- 支持在任何Windows PC上的离线操作
- 无需占用台架测量电脑端的宝贵算力
您的优势
质量管理的新动力
- 详细验证和改进已知故障分析
- 离线分析的结果为深度优化质量保证提供了重要动力
- 优化质量管理并提高制造质量
- 时间优势：离线分析比在测试台架中更高效、更迅速
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